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Introduction à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse x élémentaire (personnes débutantes)

Code Stage : FCEA01

Tarifs

Entreprises : 2130 €
Individuel : 1065 €

Nombre d'heures

24

Stage de quatre jours.
Nombre participants limité à 20.

Responsable

François Brisset, Ingénieur de recherches, Université d’Orsay – Paris Sud
Organisé en collaboration avec l’Université Paris-Sud / CNRS

Publics et conditions d'accès

Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs débutant ou faux débutants dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique : métallurgistes, mécaniciens, chimistes et géologues, etc.

Objectifs

  • Acquérir les bases théoriques et pratiques nécessaires pour utiliser correctement un microscope électronique à balayage.
  • Identifier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière.
  • Appréhender la spectrométrie X à sélection d'énergie et l'analyse qualitative.
  • Repérer les techniques de préparation des échantillons.
  • S'initier à l'interprétation des phénomènes, des mesures effectuées et des images enregistrées.

Les +

Au cours d'une journée de démonstration sur appareils, les diverses possibilités des instruments seront passées en revue de façon pratique avec des opérateurs expérimentés.

Voir aussi les formations en

Programme

  • Présentation du microscope.
  • Interactions électrons-matière : les phénomènes, leur origine, leur interprétation sommaire.
  • Optique électronique.
  • Les divers détecteurs et analyseurs d'électrons et de photons et leurs utilisations.
  • Principe de formation de l'image et de son traitement, conditions d'observation.
  • Notions de microanalyse élémentaire par spectrométrie X à sélection d'énergie : analyse qualitative.
  • Principes de l'analyse X quantitative sur échantillons homogènes ou stratifiés.
  • Préparation des échantillons massifs, métallisation - quelques artéfacts.

Moyens pédagogiques :

Travaux dirigés devant des appareils : imagerie MEB, analyse X qualitative

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur, MEB

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – QCM interactif

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIème

Session(s)

du 2 octobre 2018 au 5 octobre 2018


2, 3, 4, 5 octobre 2018

Contact

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Du lundi au vendredi, de 09h30 à 17h00