Initiation à la diffraction des rayons X

Code Stage : FCEA17

Tarifs

Entreprises : 1220 €
Individuel : 610 €

Nombre d'heures

18

Stage de trois jours.
Nombre de participants limité à 10.

Responsable

Léo Mazerolles, Directeur de recherche au CNRS
Sandrine Tusseau-Nenez, Ingénieur de recherche au CNRS

Publics et conditions d'accès

Techniciens et techniciens supérieurs désirant acquérir les connaissances de base dans le domaine de l'analyse cristallographique des matériaux métalliques et minéraux.

Objectifs

  • Aquérir les connaissances de base théoriques et pratiques pour la mise en œuvre de techniques de diffraction de rayons X et leur utilisation en science des Matériaux.

Les +

TP sur des diffractomètres de laboratoire (PANalytical, Bruker AXS). Possibilité de choisir son logiciel de traitement des données (Diffrac.Eva Bruker AXS ou Highscore PANalytical) pour approfondir l’utilisation du logiciel utilisé en entreprise.

Voir aussi les formations en

Programme

  • Rappels de notions de base de cristallographie (structure cristalline, symétrie, groupe d'espace, réseau réciproque)
  • Interaction matière/rayonnement X - Principes de la diffraction
  • Techniques expérimentales (préparation des échantillons, montages et appareillages)
  • Analyse et interprétation de diffractogrammes (identification de phases, détermination des paramètres cristallins et de taille de cristallites)
  • Utilisation de logiciels de traitement de données


Moyens pédagogiques :

Le stage associera cours, exercices et travaux pratiques. Se munir d’une calculatrice scientifique.
Pendant les TP, il sera possible d’analyser des diffractogrammes sur lesquels des stagiaires auraient des questionnements ; se munir le cas échéant des fichiers des résultats obtenus.

Moyens techniques :

Tableau blanc, vidéoprojecteur, matériel industriel

Modalités de validation :

Attestation de participation remise en fin de stage – Pas d'examen final

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris IIIe

Contact

01 58 80 89 72
entreprises.inter@lecnam.net