Approfondissement en imagerie au MEB et en microanalyse X

Code Stage : FCEA02

Tarifs

2 400 €

Particuliers : vous ne bénéficiez d'aucune prise en charge ou vous êtes demandeur d'emploi ? Découvrez nos tarifs adaptés à votre situation

Nombre d'heures

25

21 mars 2022 - 25 mars 2022
Approfondissement des connaissances théoriques et pratiques en imagerie au microscope électronique à balayage et en microanalyse X quantitative

Stage de quatre jours.
Nombre maximum de stagiaires : 16

Responsable

François Brisset, Ingénieur de recherches, Université Paris-Sud.
Organisé en collaboration avec le centre des matériaux de l'ENMSP.
Avec la collaboration de spécialistes des centres de recherche des organismes suivants : Arcelor, EDF, Centre des Matériaux de l'ENSMP, ONERA, BRGM, Université d’Artois.

Public, conditions d’accès et prérequis

Toute personne devant utiliser régulièrement un MEB et un système de microanalyse EDS (et/ou WDS) et en ayant déjà utilisé un MEB et un EDS (ou un WDS).

Prérequis

Le suivi de ce stage suppose une expérience pratique professionnelle dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique à balayage et à la microanalyse EDS (ou WDS) correspondant aux acquis du niveau du stage : "Introduction à la microscopie électronique à balayage" (FCEA01)

Objectifs

Objectifs pédagogiques

  • Préciser et approfondir les connaissances nécessaires à un travail efficace sur les MEBs et à une interprétation meilleure des résultats d’analyse X,
  • Étudier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matière,
  • Rechercher les conditions optimales d'observation de ses propres échantillons,
  • Approfondir la théorie et la pratique de la microanalyse X quantitative sur massif ou stratifiés,
  • Améliorer sa maîtrise de la qualité de l'imagerie électronique et de l'analyse X,
  • Savoir identifier des problèmes lies aux équipements.

Compétences visées

  • Comprendre ses images et ses microanalyses,
  • Connaitre les phénomènes physiques, les utiliser à bon escient,
  • Résoudre les problèmes éventuels et maitriser ces images et microanalyses.

Les + du stage

  • Atout 1 : Les bases théoriques révisées et avec un accent sur la microanalyse X quantitative,
  • Atout 2 : Une journée de travail sur les équipements avec des utilisateurs expérimentés,
  • Atout 3 : De nouvelles notions sur les systèmes d’analyses WDS et EBSD et du travail sur les matériaux polymères,
  • Atout 4 : A la fin, une révision de tous les points importants et vus durant la semaine à l’aide d’un quiz.

Voir aussi les formations en

Programme

Jour 1 : Accueil après-midi

Jour 2 : Rappel sur les bases - interactions, MEB et analyse X quantitative,

Jour 3 : Analyse X – WDS et travail sur les polymères,

Jour 4 : Journée entière sur les appareils, mise en pratique des notions théoriques,

Jour 5 : Notions sur l’analyse EBSD, les erreurs possibles en analyse X, la métallisation et la maintenance des équipements.

Moyens pédagogiques

Une journée entière sur les appareils MEB et EDS pour mettre en valeur les connaissances théoriques vues auparavant en salle lors de cours participatifs.

Contact

Posez-nous vos questions via ce formulaire (cliquer ici) ou en appelant le 01 58 80 89 72
Du lundi au vendredi, de 09h30 à 17h00

Centre(s) d'enseignement

Complément lieu

Paris 3ème

Session(s)

du 21 mars 2022 au 25 mars 2022


21 (après-midi), 22, 23, 24 et 25 mars 2022
Horaires : 9h00 – 17h00 et 9h00 – 15h30

Une journée de travail sur les microscopes et la microanalyse. Les autres jours en salle.